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Fulde (Shanghai) Instrument Equipment Co., Ltd
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ライツテクノロジーCAMSIZER M 1静止画法粒度計

ネゴシエーション可能更新02/04
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原産地

概要

ライツテクノロジーCAMSIZER M 1静止画法粒度計は静止画法を用いてサンプル粒子を全面的、正確に特性評価する粒度粒子形分析器である。ライツテクノロジーCAMSIZER M 1は静止画法粒度計の中の*選択を採用し、製品の研究開発と品質制御に非常に良い応用効果を提供した。

製品詳細

ライツテクノロジーCAMSIZER M 1静止画法粒度計静止画法を用いてサンプル粒子を全面的、正確に特性評価する粒度粒子形分析器である。CAMSIZER M 1は静止画法粒度計の中の*選択を採用し、製品の開発と品質制御に非常に良い応用効果を提供した。

ライツテクノロジーCAMSIZER M 1静止画法粒度計強力な照明装置、高精度のサンプル台、および2.5 xから50 xの倍率を持つ5つの対物レンズを備えている。広範なサンプルテーブルは、8つの標準的なキャリアシートに対応する領域を評価するために使用することができる。CAMSIZER M 1は1810万画素カラーカメラを用いて画像収集を行い、測定範囲全体で粒子を迅速かつ正確に分析することを確保した。

ライツテクノロジーCAMSIZER M 1静止画法粒度計の応用例

活性医薬成分及び添加剤、セメント、セラミック粉体、化学品、微細研磨研磨剤、繊維、食品、工業用ダイヤモンド、金属粉末、鉱物...

ライツテクノロジーCAMSIZER M 1静止画法粒度計長所

  • ハードウェア

  • 測定範囲0.5~1500µm

  • 1810万画素カラーカメラ

  • 測定に使用できる透過光または入射光、または両方を同時に使用する

  • 多種のサンプルプレートトレイを選択可能で、大きな活性を提供する

  • 5つの対物レンズ、1つの対物レンズを装備

  • 高精度制御可能なサンプルテーブル

  • ハンドレバー操作

  • M-Jetモジュールを用いたサンプル粉末の効率的な分散

  • ソフトウェア

  • 直感的な評価ソフトウェア

  • 同時に粒度粒形解析を行う

  • 粒度定義には、幅、等価球径幅、フェレット直径、マーティン直径などが含まれる

  • 粒状パラメータには、円度、凹凸度、アスペクト比、締固め度などが含まれる

  • Particle X-Plorerソフトウェア評価測定後の各粒子

  • 統合粒子データベースの構築

  • 複数の評価とフィルタリング

  • 結果:対応する数量、面積、体積を表示する

  • シームレス分割アルゴリズム

  • フォーカスオーバーレイ

  • 一般的な利点

  • 高速で簡単なキャリブレーション

  • 複数部品

  • ハイビジョン画像

  • 粒子データと画像の同時記録

  • じどうそくてい

ライツテクノロジーCAMSIZER M 1静止画法粒度計の性能指標

そくていげんり 静止画解析(ISO 13322-1)
測定範囲 0.5μm - 1500μm
解析タイプ 乾式法と湿式法の分析
測定時間 ~5~60分(サンプルの種類と測定データによる)
解像度 18.1 Mピクセルカラーカメラ
大デジタル解像度 35 nm
使用可能な対物レンズ 標準:2.5 x 5 x 10 x 20 x 50 xオプション:1.25 x or 100 x
重量(測定ユニット) 〜45kg
オペレーションユニット PC,Windows 10オペレーティングシステム、2台のモニタ、キーボード、マウス、評価ソフトウェアを含む

ライツテクノロジーCAMSIZER M 1静止画法粒度計さようげんり

CAMSIZER M 1は静止画法を用いて粒子の粒度粒形を測定し、測定範囲は0.5µm-1500µmである。試料材料を搭載したスライダ部品はカメラシステムに従って同期して移動し、移動ごとに1枚の写真を撮影することを確保する。乾湿サンプル(粉末、懸濁液)はすべて分析できる。対比動画像法、静止画法のサンプルは測定中に固定されているので、より高品質の粒子画像を得ることができ、より豊富な詳細をキャプチャすることができます。


検査のたびに、粒度粒子分析器CAMSIZER M 1は観測板にオートフォーカスし、選択した領域のすべての粒子が高精度の画像(傾き補償)を得ることができることを確保した。分析中にすべての画像と測定データを保存することができ、Particle X-Plorerソフトウェアを使用して後続のデータ評価に様々な可能性を提供した。測定が完了すると、全体的な画像はお客様に直感的な粒子品質認識をもたらします。革新的な接合アルゴリズムにより、複数の測定領域のシームレス接合を実現し、1500μmより大きいサイズの粒子を評価することもできる。

技術改造と誤差調整による