タイクディジタルサンプリングオシロスコープ

タイクディジタルサンプリングオシロスコープ

特徴：

電気モジュール信号測定精度：

• 超低システムジッタ（<100 fs、標準）
• > 70GHz

すべての帯域幅にわたって業界で低いシステムノイズを実現するには：

• 大きな値600µV（標準値450µV）@60 GHz
• 大値380µV（標準値280µV）@30 GHz

1台のホスト内の複数の6つのチャネルが同時に<100 fsジッタを収集します。

光モジュールは155 Mb/sから100 Gb/s（4 x 25）イーサネットのすべての標準レートの光一貫性テストをサポートしている。

優れた収集スループットで、サンプリング率は300 kS/sに達する。

サンプラを被測定機器（DUT）の近傍に置くことができる。

独立したキャリブレーションチャネル位相差補正。

タイクディジタルサンプリングオシロスコープ 優位：

<100 fsバックグラウンドジッタは、高ビットレート（40と100（4´25）Gb/s）デバイスの検定を可能にし、典型的には<5%の信号単位間隔は試験装置によって使用される。70 GHz帯域幅は、高ビットレート信号の完全な検定（データレート28 Gb／秒の5次高調波とデータレート>45 Gb／秒の3次高調波）を可能にする。

高ビットレート、低振幅信号を収集する際の機器のノイズ量を大幅に低減し、追加のジッタやアイチャート閉鎖をもたらす可能性のある他のノイズを回避する。

複数の差分チャネルの高忠実度収集はチャネル間損傷テストを行い、複数の高速シリアルチャネルシステムのテストスループットを向上させることができる。

155 Mb/s（OC 3/STM 1）から40 Gb/s（SONET/SDHと40 GBase Ethernet）、100 Gb/s Ethernet（100 GBase-SR 4、-LR 4、ER 4）、波長850、1310、1550 nmの単一モードおよびマルチモード光標準に対してコスト効率の高い、機能的な光テストシステムを提供します。

優れたシステムスループットにより、製造または設備検定試験時間を4倍に短縮できます。

遠隔サンプリングヘッドはDUTから機器間のケーブルと治具による信号劣化を大幅に低減し、試験システムの反嵌を簡略化する。

デュアルチャネルモジュールには統合された較正済みチャネル位相差補正があり、タイムラグを解消し、マルチチャネル測定の信号忠実度を強化する。