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Beckman Coulter Trading (China) Co., Ltd
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応用分野の広い粒度分析装置として、レーザー回折粒度計は他の粒度分析装置にはないより広い測定範囲、より高い繰り返し性、より速い測定速度及びより簡便な操作を有する。しかし、私たちが測定したサンプルは種類が多く、粒度分布が非常に広いので、どのように計器の上下限粒度の限界測定を確保しますか。どのようにして単峰、多峰サンプルを迅速かつ正確に区別することを確保しますか?どのようにして操作プロセスを簡略化し、規範化しますか。これらはすべて私たちが注目している焦点です。

本講座では、サンプルの前処理の検討、およびテスト中のレーザー粒度計LS 13 320 XRのハードウェアソフトウェア設計の詳細な分析を通じて、あなたが迅速に測定サンプルの正確な粒度分布を知るために有力な保障を提供します。