CT-COMPACT ナノ

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モデル

製造者の性質: プロデューサー

製品カテゴリー

原産地

オンラインコンサルト

概要

CT-COMPACT nano 2018/10/11 CT-COMPACT nano，超高解像度はサブミクロンレベルに到達し、強力な機能性はその場/4 Dソリューションを提供することができます。従来のクロマトグラフィーに比べ、CT-COMPACT nanoナノ解像度はサンプルサイズに制限されず、0.4μmの超高解像度を実現し、材料科学、半導体、石油、天然ガス、生命科学などの分野に適している。CT-COMPACT nanoは複雑で変化しやすい目標で動作する。適合しないシステムアーキテクチャと典型的なProCon X-Ray設計を組み合わせて、便利で効率的なシステムを提供します。サブミクロン分解能と優れたコントラストにより高品質なスキャン結果を実現した。特徴・操作簡便・非接触計量・興味量−走査・品質制御材料・欠陥認識（空洞、亀裂…）・異なる再構成アルゴリズムによる逆投影のフィルタリング、代数、統計・複数の走査軌跡Circular、Helix、Planarなど・多くの走査軌跡の視野拡張・体積スケーリング（Hounsfield）・環状アーティファクト抑制とノイズ低減アルゴリズム・ビーム硬化補正と金属アーティファクト減少・ドリフト補償のためのジッタ補正・位相と暗視野コントラストオプション・スクリプト作成のためのMatlab/Python/Labview……

製品詳細

CT-COMPACT nano，超高解像度はサブミクロンレベルに到達し、強力な機能性はその場/4 Dソリューションを提供することができます。従来のクロマトグラフィーに比べ、CT-COMPACT nanoナノ解像度はサンプルサイズに制限されず、0.4μmの超高解像度を実現し、材料科学、半導体、石油、天然ガス、生命科学などの分野に適している。

CT-COMPACT nano複雑で変更しやすい目標で動作します。一致しないシステムアーキテクチャと典型的なProCon X-Ray設計を組み合わせて、便利で効率的なシステムを提供します。サブミクロン分解能と優れたコントラストにより高品質なスキャン結果を実現した。

特徴

・操作が簡単

・非接触計量

・興味量-スキャン

・材料から独立した品質制御

・欠陥認識（空洞、亀裂......）

・異なる再構築アルゴリズムによる逆投影フィルタリング、代数、統計

・複数の走査軌跡Circular，Helix，Planar待って

・多くの走査軌跡の視野拡張

・体積スケール（Hounsfield）

・リングアーチファクト抑制およびノイズ低減アルゴリズム