めっき膜厚計マイクロパイオニアXRF-2020

めっき膜厚計マイクロパイオニアXRF-2020

電子メッキ、PCB板メッキ、化学メッキ、メッキ、ニッケルメッキ、銅メッキ、銀メッキ、パラジウムメッキ、亜鉛ニッケルメッキなどを検査する

測定可能な単層、二層、多層、合金めっき層

韓国MicropXRF-2020

電子めっき、金属めっき、端子コネクタなどの製品めっき層の厚さを測定する

測定可能な金メッキ、銀メッキ.亜鉛めっきニッケルめっきクロムめっき、亜鉛ニッケルめっきなど

マイクロイオン発生器

XRF-2020厚さ測定器の試験範囲

メッキ：0.03-6 um

パラジウムめっき：0.03-6 um

镀镍：0.5-30um

錫めっき：0.3-50 um

銀めっき：0.1-50 um

クロムめっき：0.5-30 um

亜鉛めっき：0.5-30 um

亜鉛ニッケルめっき合金：0.5-30 um

応用：電子めっき、金属めっき、LEDホルダ、端子コネクタ、半導体などのめっき層の厚さを測定する

単めっき層、二重めっき層、多めっき層及び合金めっき層の厚さを試験することができる

めっき生産企業及び製品の来料検査に広く使用でき、製品のめっき層の厚さ及び品質をより効果的に制御するのに便利である。

XRF-2000めっき厚さ測定器ワーク、PCBおよび金物、コネクタの測定に使用可能、半導体などの製品の各種金属めっき層の厚さ。10-30秒だけで測定結果を得ることができ、小測定面積は直径0.2 mmの円面積である、測定範囲：0-35 um、
電気めっき、蒸着、イオンめっきなどの各種金属めっき層の厚さを測定できる
微小面積めっき層厚の測定は、CCDカメラにより任意の微小面積を観察及び選択することができる

XRF-2000めっき厚さ測定器の特徴：電気めっき、蒸着、イオンめっきなどの各種金属めっき層の厚さを測定できる
CCDカメラにより任意の微小面積を観察し、選択して微小面積めっき厚さの測定を行い、直接被測定物に接触したり破壊したりしないようにすることができる。
薄膜FP法ソフトウェアは標準的な配置であり、多層めっき層及び合金めっき層の厚さと成分を同時に測定することができる。また、鉛フリーはんだの応用にも適している。
250種類以上のめっき層厚測定と成分分析に必要な標準サンプルを用意した。

X蛍光電めっき膜厚計

原産地：韓国

ブランド：Micropioneerマイクロパイオニア

モデル：XRF-2000はXRF-2020にアップグレードされている

XRF-2020 Lタイプ：測定サンプルの縦幅55 cm、高さ3 cm：メサ荷重3 kg

XRF-2020H型（かた）測定サンプルの縦幅55 cm、高さ12 cm：台荷重5 kg

電子めっき、化学めっき層の厚みを測定する、

例えば、金めっき、ニッケルめっき、銅めっき、クロムめっき、ニッケル亜鉛めっき、銀めっき、亜鉛めっきニッケルめっき、錫めっきである...

測定可能な単層、二層、多層、合金めっき層

めっき膜厚計マイクロパイオニアXRF-2020