X線非破壊膜厚計XRF-2020

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概要

韓国MicropXRF-2020めっき層厚測定器XRF-2000 X線無損失膜厚測定器：電子めっき、金属めっき、端子コネクタなどの製品めっき層厚を測定することができ、めっき、銀めっき

韓国MicropXRF-2020めっき層厚測定器

XRF-2000X線非破壊膜厚計：

電子めっき、金属めっき、端子コネクタなどの製品めっき層の厚さを測定する

測定可能な金メッキ、銀メッキ.亜鉛めっきニッケルめっきクロムめっき、亜鉛ニッケルめっきなど

マイクロイオン発生器XRF-2020厚さ測定器の試験範囲

金めっき：0.03-6um

パラジウムめっき：0.03-6 um

镀镍：0.5-30um

錫めっき：0.3-50 um

銀めっき：0.1-50 um

クロムめっき：0.5-30 um

亜鉛めっき：0.5-30 um

亜鉛ニッケルめっき合金：0.5-30 um

応用：電子めっき、金属めっき、LEDホルダ、端子コネクタ、半導体などのめっき層の厚さを測定する

単めっき層、二重めっき層、多めっき層及び合金めっき層の厚さを試験することができる

X線非破壊膜厚計めっき生産企業及び製品の来料検査に広く使用でき、製品のめっき層の厚さ及び品質をより効果的に制御するのに便利である。

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