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日立場放射透過型電子顕微鏡HF-3300

交渉可能更新03/18
モデル
製造者の性質
プロデューサー
製品カテゴリー
原産地
概要
日立場発射透過型電子顕微鏡HF-3300は、日立製作所が古くから知られている冷間発射型電子銃と300 kV高圧システムを組み合わせて、HF-3300が超高分解能イメージングと高感度分析能力を持つことを保証した。HF−3300は*の二重プリズムホログラフィー機能を有し、多くの透過型電子顕微鏡では得られない情報、特に材料の物理的性質に関する位相情報(電位場、磁場など)を得ることができる。元素電子エネルギー損失分光法(EELS)と高精度平行ナノビーム回折技術を組み合わせて、HF-3300は超高空間分解能を研究することもできる
製品詳細

日立場放射透過型電子顕微鏡HF-3300

製品紹介:

HF-3300は300 kVの冷間電界放射透過型電子顕微鏡であり、日立製作所が長い間有名な冷間電界放射型電子銃と300 kV高圧システムを組み合わせてHF-3300が超高分解能イメージングと高感度分析能力を持つことを保証した。HF−3300は*の二重プリズムホログラフィー機能を有し、多くの透過型電子顕微鏡では得られない情報、特に材料の物理的性質に関する位相情報(電位場、磁場など)を得ることができる。元素電子エネルギー損失スペクトル(EELS)と高精度平行ナノビーム回折技術を配合し、HF-3300は超高空間分解能の元素分析と材料構造特徴を研究することもでき、材料研究に新たな扉を開いた。

日立場放射透過型電子顕微鏡HF-3300の主な特徴:

高輝度電界放出電子銃冷
冷電界放出電子銃が先天的に持つ高輝度と高エネルギー分解能の特徴は、ナノスケール分析研究を可能にし、超高分解能画像と電子ホログラフィーに*貢献する。

300 kV高圧系

300 kV高圧システムはより高い透過能力を持ち、厚いサンプルの原子分解能画像を保証し、サンプルの製造難易度を下げ、特に金属、セラミックスなどの高原子番号サンプルの観測に非常に有利である。

*の分析能力
二重プリズムホログラフィー機能、高空間分解能電子エネルギー損失スペクトル(EELS)、高精度平行ナノビーム回折技術など*の分析技術を新たに導入した。

FIBとの併用が可能なサンプルロッド
日立独自のサンプルレバーはFIB、TEM、STEMの使用に対応しています。

シンプルで使いやすい制御システム
Windowsに基づいて開発されたコンピュータ制御システム、モータ駆動可動絞り、5軸モータサンプル台は機器を簡単に使いやすくし、10分間の昇圧時間と1分間のサンプリング時間は機器の効率的な運転を保証した。

技術パラメータ:

プロジェクト 主なパラメータ
電子銃 単結晶タングステン(310)冷電界放出電子銃
かそくでんあつ 300kV、200kV*・100kV*
ポイント解像度 0.19nm
ライン解像度 0.10nm
情報解像度 0.13nm
倍率 低倍:200 x-500 x、観測:2000 x-1500000 x
画像の回転 ≦±5°(観測モード、1000000 x以下)
サンプル傾斜 ±15°
カメラの長さ 300~3,000mm
スペクトル立体角* 0.15Sr

応用分野:

HF 3300は冷電界放出の高電圧透過電子顕微鏡として、大部分の材料類(金属、セラミックスなど)サンプルの高分解能観察の設備とすることができ、サンプル製造の難しさを簡略化することができ、高分解能を保証することもできる。同時に、HF-3300も高空間分解能分析の需要を満たすことができ、高輝度、低色差の冷電界放出電子銃は高空間分解能の元素と構造分析に保障を提供し、EELSとナノビーム回折機能を配合することでナノスケール元素の分布と結晶構造の研究を実現することができる。*のデュアルプリズムホログラフィー機能により、HF-3300はより多くのサンプルの情報、特に物理的性能に関する情報を得ることができ、その応用分野を大幅に拡大した。