ナノインデンテーションメータ

交渉可能更新01/13

モデル

製造者の性質: プロデューサー

製品カテゴリー

原産地

オンラインコンサルト

概要

ナノインデンテーション計2018/06/07基礎パラメータタイプ/使用：真空（SEM、部分真空、不活性ガス）における空気中の主なインデントモード：真の変位試験プロトコルの適応性：カスタマイズ可能なソフトウェアアップグレードオプション/拡張機能：高温と超高歪率モジュールインデントヒント：Berkovich、Cube Corner、Flattop、Wedge、Sphericalなどのインデント範囲：40μm変位ノイズ底：1 nm負荷範囲：500 mN標準/オプション1.5 Nローディング下地ノイズ：4μN/12μN RMSノイズ洞状モード：200 Hzシフトパターンインデンテーションの概要：オペレータは任意の輪郭（シフトまたは荷重）を自由に定義するサンプル先端位置合わせインデンテーション先端遠隔方法：22 mm範囲、1 nm分解能（閉ループ）自動接近モード：数mmサンプリング位置範囲を超える：26x 26 mm、1 nm分解能（閉ループ）打痕面積（推奨）10 x 10 mm室温でのドリフト：5 nm/min（真空中）超高歪率モジュール歪率：3000 s-1洞状モード：開ループ10 kHz起動範囲：1μm測定範囲：1 Nローディング下地ノイズ：30μNRMSノイズ高温モジュール高温範囲：標準600℃/オプション800℃600℃でのドリフト：10 nm/min 60……

製品詳細

基礎パラメータ

タイプ/使用：真空（SEM、部分真空、不活性ガス）中、空気中
主なインデントモード：真のシフト
テストプロトコルの適応性：カスタマイズ可能なソフトウェア
アップグレードオプション/拡張機能：高温および超高ひずみ率モジュール

インデント
インデントのヒント：Berkovich、Cube Corner、Flattop、Wedge、Sphericalなど
インデント範囲：40μm
変位ノイズ底：<1 nm
負荷範囲：500 mN標準/オプション1.5 N
ローディングベースノイズ：4μN/12μN RMSノイズ
洞状モード：200 Hzの変位モード
打痕の概要：オペレータは任意の輪郭（変位または荷重）を自由に定義できます

サンプルの上揃え
圧子先端遠隔方法：22 mm範囲、1 nm分解能（閉ループ）
自動接近モード：数ミリを超える
サンプリング位置範囲：26 x 26 mm、1 nm分解能（閉ループ）
打痕面積（推奨）10 x 10 mm
室温でのドリフト：5 nm/min（真空中）

超高ひずみ率モジュール
ひずみ率：3000 s-1
洞状モード：開環10 kHz
起動範囲：1μm
測定範囲：1 N
ローディングバックグラウンドノイズ：30μN RMSノイズ

高温モジュール

高温範囲：標準600℃/オプション800℃
600℃でのドリフト：10 nm/min
600℃での安定時間：<3時間
圧子先端材料：ダイヤモンド、立方晶窒化ホウ素、サファイア、炭化タングステンなど
温度安定性：10 mK分解能

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