RLU-光ファイバ伝導を備えた軽量レーザ装置

レニサウのレーザ装置はレーザ干渉原理に基づく高性能測定能力を持ち、従来のスチールバンド格子やガラス格子と同様に設置が容易である。

RLEシステム

RLEシステムは*零差レーザ干渉測定システムであり、特に位置フィードバック応用のために設計されている。各RLEシステムには、特定のアプリケーションの要件に応じて、1つのRLUレーザデバイスと1つまたは2つのRLD 10エミッタヘッドが含まれています。

RLUレーザ装置には、HeNe（ヘリウム／ネオン）レーザ源、周波数安定化のための電子デバイス、光ファイバ伝導デバイス、軸位置フィードバック電子デバイスの2つの構成があります。

レニサレーザー定規を利用すると、お客様が提案する基準を超えることができ、お客様に提供する体験に全力を尽くすことができます。私たちが成功し続けることができたのは、レニッサウがもたらした技術の進歩によるものです。

Aerotech（アメリカ）

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レニサは現在、2つのモデルのレーザー装置を提供しており、両者は性能に違いがある：

RLU 10レーザ装置

RLU 10の任意の1時間以内のレーザ安定化精度は±50 ppbであり、その性能レベルはほとんどの非真空環境応用に適している。

特性と利点

RLU 10を目的のアプリケーションに適したレニサウエミッタ（RLD）と組み合わせて使用することには、次のような特性と利点があります。

• シンプルなシステム構造：レニサウを用いた光ファイバ伝導システム
• 迅速な調整によるコリメート-RLDエミッタヘッドにより、レーザビームが測定軸に直接射出可能
• コンパクトな構造で簡単な設定-システムの占有スペースが極めて少なく、設置時間が極めて短い

RLU 10の概要

*出荷時の構成
**モデル/解像度による

RLU 10のパフォーマンス

XYプラットフォーム応用

非真空環境でXYプラットフォームの応用に適したレーザー尺を探していますか？RLE 10−DX−XGは、RLU 10レーザ装置と2つのRLD 10−A 3−P 9（平面鏡干渉計90°）エミッタを使用するこのようなアプリケーションの理想的な選択肢である。

RLU 20レーザ装置

RLU 20の任意の1時間以内のレーザ安定周波数精度は±2 ppbであり、大部分の真空環境応用に*測定性能を提供することができる。

特性と利点

RLU 20を目的のアプリケーションに適したレニサウエミッタ（RLD）と組み合わせて使用することには、次のような特性と利点があります。

• シンプルなシステム構造：レニサウを用いた光ファイバ伝導システム
• 迅速な調整によるコリメート-RLDエミッタヘッドにより、レーザビームが測定軸に直接射出可能
• コンパクトな構造で簡単な設定-システムの占有スペースとインストール時間が極めて少ない

RLU 20の概要

*出荷時の構成
**モデル/解像度による

RLU 20のパフォーマンス

相対測定の適用

真空環境下での相対測定用途に適したレーザー尺を探していますか？RLE 20−DX−XPは、RLU 20レーザ装置と2つのRLD 10−X 3−DI（差分干渉計）エミッタヘッドを使用するこのようなアプリケーションの理想的な選択肢である。

RLEシステムの構成

変位干渉計として動作するには、レニサウのレーザ装置を適切なレーザヘッドに接続する必要がある。RLEシステムを定義する際には、次のオプションを考慮する必要があります。

• レーザ光源（RLU 10またはRLU 20）
• ファイバ長3 mまたは6 m（*RLE 10）
• 校正証明書（追加料金あり）
• 平面光学ミラー群または角錐反射光学ミラー群
• 各軸用RLDエミッタタイプ
• 各軸のビーム出力方向（差動干渉計エミッタには適用されない）

具体的なアプリケーションに必要なRLEレーザースケールシステムの注文番号を決定するには、注文番号ジェネレータにアプリケーション要件を入力するだけです。これにより、見積もりや発注に使用できる必要なシステム発注番号が自動的に計算されます。

英国レニサウRLUライトレーザ装置

英国レニサウRLUライトレーザ装置