全反射X蛍光分光計の応用範囲
TXRF(全反射X蛍光)分析原理はX蛍光エネルギースペクトル法に基づいているが、X線エネルギースペクトルと対照的に、伝統的なエネルギースペクトルは原級Xビームを用いて45°角でサンプルを衝撃し、TXRFはミリラジアンの臨界角(ゼロ角に近い)で入射する。このような接線方向に近い入射角を採用することにより、1次Xビームはほとんどすべて反射することができ、サンプル表面に照射した後、サンプル担体がビームを吸収し、散乱の発生を減少させることができ、同時に担体の背景とノイズを減少させ、サンプル使用量を減少させることもできる。
TX 2000は全反射と伝統的なエネルギー分散を同じ器具に集積し、革新的な光学エンコーダのステッピングモーター、角度測定、ソフトウェア制御Mo/Wターゲットを自由に切り替えることができ、高分解能、低背景のパルプ制御温度シリコンドリフト検出器を採用した。
適用範囲
TX 2000はナトリウムNaからプルトニウムPuまでのすべての元素含有量を測定でき、微量または超微量元素分析(pptまたはpg)を行うことができ、広範な応用は環境分析(水、ほこり、堆積物、大気懸濁物)、製薬分析(生体液と組織サンプル中の有害元素)、法医学(微小証拠分析)、化学純度分析(酸、アルカリ、塩、溶剤、水、超純試薬)、油品分析(原油、軽質油、燃料油)、染料分析(インク、ペンキ、粉末)、半導体材料分析(揮発相分解)、核材料工業(放射性元素分析)である。
主な特徴
1、単内標補正、有効に定量分析を簡略化し、基体の影響がない、
2、任意の基体のサンプルに対して単独で校正と定量分析を行うことができる、
3、多元素リアルタイム分析、微量と超微量分析を行うことができる、
4、サンプルのタイプと異なる応用ニーズの影響を受けない、
5、*の液体又は固体サンプルの微量分析、分析に必要なサンプル量が小さい、
6、優れた検出限界レベル、元素分析範囲はナトリウム被覆からプルトニウムまで、
7、動的線形範囲、
8、いかなる化学前処理も必要なく、記憶効果がない、
9、非破壊的分析、運行コストが安い。
分光システムによって、XRF分光器は主に波長分散型(WDXRF)とエネルギー分散型(EDXRF)の2種類があり、両者の構造は下図のように概略的である:
X蛍光分光計の範囲内で、波長分散分光計(WXRF)方法と比較して、TXRF分析技術はサンプル量が少ないため、サンプルを作る煩雑な過程も必要なく、また本底の増強あるいは減弱効果もなく、毎回異なる基体に対して異なる基体校正曲線を行う必要はない。また、内標準法を用いているため、環境温度などへの要求が低い。そのため、簡便性、経済性、サンプル使用量の少なさなどの面で、WXRF方法より明らかな優位性がある。
TXRF技術は酸素からウランまでのすべての元素を分析することができ、一度に30種類近くの元素を同時に分析することができ、これは原子吸収スペクトル計のETASとFAAS方法では難しい。質量分析計におけるICP-MSとGDMS及び中性子活性化分析(NAA)などの方法と比較して、TXRF分析方法は迅速、簡便、経済、多元素同時分析、サンプル量が少ない、検出限界が低い、定量性が良いなどの面で総合的な優位性がある。