めっき膜厚計X-RAYの動作原理

めっき膜厚計X-RAYの動作原理：

X線を試料に照射し、試料から反射した2回目のX線の強度により行う。めっきなどの金属薄膜の厚さを測定すると、試料に接触せず、試料に照射されるX線は45 ~ 75 W程度であるため、試料に損傷を与えることはない。また、測定は10秒から数分以内に行うこともできます。

測定可能な金メッキ、亜鉛メッキ、パラジウムメッキ、クロムメッキ、銅メッキ、銀メッキ、錫メッキ、ニッケルメッキ、亜鉛ニッケル合金メッキなど

測定可能な単めっき層、二重めっき層、多めっき層、合金めっき層など、底材を問わない

単層：例えば各種の底材にニッケルメッキ、亜鉛メッキ、銅メッキ、銀メッキ、錫メッキ、金メッキなど
二層：例えば、銅にニッケルめっき、銅にニッケルめっき、銀めっき、鉄に銅めっき、ニッケルめっきなど
多層：例えばABS上に銅めっきニッケル再めっきクロムめっき、鉄上に銅めっきニッケル再めっきなど合金めっき層：
鉄には亜鉛ニッケルメッキ、銅にはニッケルリンメッキなど

めっき膜厚計X-RAYの動作原理

製品は下図のように

XRF卓上高精度無破壊めっき層厚測定器の仕様は下図の通り

韓国MicroPioneerめっき層厚計

XRF-2020/2000

測定金メッキ、亜鉛メッキ、パラジウムメッキ、クロムメッキ、銅メッキ、銀メッキ、錫メッキ、ニッケルメッキ、亜鉛ニッケル合金メッキなど

単層、二層、多層、合金めっき測定が可能で、底材を問わない

計器全自動テーブル、じどうらい焦点を合わせて、多点自動測定。