X-RAY膜厚計韓国パイオニアXRF-2020 L

X-RAY膜厚計韓国パイオニアXRF-2020 L

電子めっき、化学めっき層の厚みを測定する、

例えば、金メッキ、ニッケルメッキ、銅メッキ、クロムメッキ、ニッケル亜鉛メッキ、銀メッキ、パラジウムメッキ、錫メッキなどが挙げる...

測定可能な単層、二層、多層、合金めっき層、

X-RAY膜厚計韓国パイオニアXRF-2020 L

測定エレクトロニックメッキ電気めっき、化学めっき層厚

メッキ膜厚測定可能：例えば、メッキ、銀メッキ、ニッケルメッキ、銅メッキ、亜鉛メッキ、クロムメッキ、亜鉛ニッケル合金メッキなど

作業方法：

CCDレンズ観察による高速無損失試験めっき膜厚

金めっき、ニッケルめっき、銅めっき、クロムめっき、ニッケル亜鉛めっき、銀めっき、亜鉛めっきニッケルめっき、錫めっきを測定する...

原理：

X線や粒子線を照射すると、余分なエネルギーを吸収することで不安定な状態になる。

不安定な状態から安定な状態に戻るには、この物質は余分なエネルギーを放出しなければならない

そしてこの時は蛍光や光の形で放出される。

蛍光X線めっき層厚測定器又は成分分析器の原理は、放出された蛍光のエネルギー及び強度を測定することである

定性と定量分析を行うことができます。