XRF-2020めっき膜厚計韓国パイオニア

XRF-2020めっき膜厚計韓国パイオニア

CCDレンズ観察による高速無損失試験めっき膜厚

金めっき、ニッケルめっき、銅めっき、クロムめっき、ニッケル亜鉛めっき、銀めっき、亜鉛めっきニッケルめっき、錫めっきを測定する...

測定可能な単層、二層、多層、合金めっき層

電子めっき、金属めっき、端子コネクタなどの製品めっき層の厚さを測定する

測定可能な金メッキ、銀メッキ.亜鉛めっきニッケルめっきクロムめっき、亜鉛ニッケルめっきなど

めっき生産企業及び製品の来料検査に広く使用できる

製品めっき層の厚さと品質をより効果的に制御するのに便利である。



ワーク、PCB及び金物、コネクタ、半導体などの製品の各種金属めっき層の厚さを測定するために使用することができる。

10-30秒だけで測定結果を得ることができ、測定製品の直径は0.4 mmより大きい、

測定範囲：0-35 um、
電気めっき、蒸着、イオンめっきなどの各種金属めっき層の厚さを測定できる
微小面積めっき層厚の測定は、CCDカメラにより任意の微小面積を観察及び選択することができる

XRF-2020めっき膜厚計韓国パイオニア

測定原理：

物質はX線や粒子線を照射すると、余分なエネルギーを吸収するため不安定な状態になる。不安定な状態から安定な状態に戻るには、この物質は余分なエネルギーを放出しなければならないが、蛍光や光の形態で放出される。蛍光X線めっき層厚測定器又は成分分析器の原理は、放出された蛍光のエネルギー及び強度を測定し、定性及び定量分析を行うことである。