SE−VM分光偏光解析器

交渉可能更新02/18

モデル

製造者の性質: プロデューサー

製品カテゴリー

原産地

オンラインコンサルト

概要

製品概要：SE-VMは高精度高速測定スペクトル偏光解析器である。偏光解析パラメータ、透過/反射率などのパラメータの測定により、光学パラメータフィルムとナノ構造の特徴分析を迅速に実現でき、フィルム材料の迅速な測定特徴付けに適している。マルチアングル、マイクロスポット、可視化レベリングシステムなどの高互換性の柔軟な配置、多機能モジュールのカスタマイズ設計をサポートする。$r$n$r$n高精度偏光解析ソリューション、超高精度、高速非破壊測定、マルチアングル、マイクロスポット、可視化レベリングシステム機能モジュールの柔軟なカスタマイズをサポートする、豊富なデータベースと幾何構造モデルライブラリ、強力なデータ分析能力を保証する

製品詳細

製品型番	SE−VM分光偏光解析器
主な特徴	1、高性能輸入複合光源を採用し、スペクトルカバーは近赤外範囲（380-1000 nm）が見られる 2、高精度回転補償器変調、PCRSA配置、Psi/Deltaスペクトルデータの高速収集を実現する 3、サポートシリーズの配置は柔軟で、異なる応用シーンに基づいて多機能モジュール化のカスタマイズをサポートすることができる 4、数百種類の材料データベース、多種のアルゴリズムモデルライブラリ、現在のほとんどの光電材料をカバー
技術仕様	1、自動化程度：手動変角 2、応用位置づけ：汎用型 3、基本機能：Psi/Delta、N/C/S、R/Tなどのスペクトル 4、分析スペクトル380-1000 nm（210-1650 nmまで拡大可能） 5、単回測定時間：0.5-5 s 6、繰り返し測定精度：0.01 nm 7、スポットの大きさ：大スポット2-3 mm、微細スポット200μm 8、入射角調整方式：手動変角 9、入射角範囲：55-75°（5°ステップ）、90° 10、焦点探し方式：手動焦点探し 11、Mappingストローク：サポートされていない 12、サポートサンプルサイズ：180 mmまで
オプション部品	1	おんどせいぎょだい
	2	Mapping拡張モジュール
	3	真空ポンプ
	4	透過吸着モジュール

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